HITACHI日立S3400N扫描电子显微镜

HITACHIS3400N扫描电子显微镜（SEM）拥有新开发的电光系统，具有更多的自动化功能，结合了自动轴功能，包括自动横梁设置、自动同轴轴。还具有3kV时低加速电压保证10nm分辨率、实时显示两幅图像、实时全屏图像等特点。高性能用于观察和分析材料的表面形貌和微结构。

由于采用新设计的TMP排气系统，无需冷却水。更换样本所需时间不到100秒，从冷启动达到就绪状态只需6分钟。它只需要2.0kVA的电源。

广泛应用于材料科学、纳米技术、电子元器件、金属学、文物考古、钢铁制造、生物医学和质量控制等领域。它可以用于研究材料的微观结构、形貌表征、颗粒分析、失效分析和质量控制等方面。

HITACHIS3400N扫描电子显微镜主要参数：

• 显微镜可以操作：
• 通常（在高真空中），分辨率高达3nm（SE检测器）或4nm（BSE检测器）
• 低电压（UACC<5kV、UACC<3kV）–分辨率达10nm（SE检测器）
• 自然（在低真空中）分辨率达到4nm（BSE检测器）
• 加速电压0.3kV30kV
• 工作台（自动五轴）
• 内径215毫米的工作室可以观察相对较大的物体
• 放大倍数5–300,000倍
• 图像内存高达5120x3840像素

HITACHIS3400N扫描电子显微镜特征：

• 革命性的自动对准功能（自动光束设置、自动孔径对准等）；
• 3kV下10nm更好的分辨率；
• 实时全屏图像、双图像和信号混合；
• 新开发的高分辨率灵敏度固态BSE检测器；
• 计算机正心、5轴电动载物台，倾斜-20/+90度（II型）；
• 可容纳高达80mm的样品进行元素分析（II型）；
• 具有最佳几何形状的分析样品室同时容纳EDS、WDS和EBSD；
• 高通量、占地面积小、电力消耗少；
• 更大的EDS检测器可加快化学分析速度；
• 能够进行低真空模式；
• 可根据需要进行溅射镀膜；
• 详细的化学图，以便更好的分析和更清晰的演示。
  

该显微镜还配备：

• Pelier系统冷却台
• 红外CCD细胞观察相机

附加设备：

• E3100临界点干燥装置，用于在CO2气氛中干燥生物制剂。
• SC7640型离子除尘器，用于对金属样品进行除尘。

HITACHIS3400N扫描电子显微镜是一种功能强大的显微镜，在材料科学和工程领域中具有广泛的应用价值。