BRUKER Dimension icon原子力显微镜 AFM

BRUKER Dimension icon原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的应用体验，具有高水平的性能、功能和配件选择， 其测试功能强大，操作简便易行。性能优异的大样品台 AFM 平台之上，应用灵活。设计旨在提供低噪声，使用户能够在几分钟内获得无伪影的图像，从而提高工作效率。

独特的传感器设计，在闭环条件下，也能实现大样品台、针尖扫描的AFM具有与开环噪音水平一样的低噪音水平，且具有极高的扫描分辨率，极大地降低噪声水平，在轻敲模式下低于30pm，接触模式下可获得原子级图像，热漂移速率低于200pm/分钟，获得真正的样品图像。适合广泛的实验、模式、技术和半自动测量。

BRUKER Dimension icon AFM原子力显微镜特征：

• XYZ 闭环扫描头在较高扫描速度工作时，图像质量也不会被损坏，实现了更大的数据采集输出量。
• 配置BRUKER 专利的PeakForce技术，Dimension icon可实现智能获取高分辨图像。
• 其软件直观的工作流程，使其操作过程比以往先进的AFM 技术更加简便。
• 专有的传感器设计实现了闭环性能，噪声水平达到了任何 AFM 上前所未见的水平。
• 高分辨率相机和 XY 定位可实现更快、更高效的样品导航。
• 开放式吸头和样品通道可容纳多种标准和定制实验。
• 自定义用户可编程脚本提供半自动测量和分析。
• 纳米级分辨率，能观察到0.1nm的纳米结构。
• 扫描范围从几微米到150μm不等。
• 支持接触模式和非接触模式两个工作模式。
• 采用先进的干扰法束跟踪技术，实现高分辨率成像。
• 工作温度范围为房温至150°C，支持整体温度控制。
• 样品台磁吸式，样本装载简单结实。
• 扫描头采用磁悬浮技术，减少环境影响提高稳定性。
• 操作接口采用易用的ICON软件，功能强大参数设置方便。
• 支持多种探针材质，适用于不同样品表面材质解析。
• 常见应用包括薄膜表面形貌，计量纳尺微结构等。

BRUKER Dimension icon AFM原子力显微镜规格：

• 型号：Dimension icon
• 产地：德国
• 仪器种类：原子力显微镜
• 样品台移动范围：180mm × 150mm可视区域
• 样品尺寸：210mm 真空吸盘样品台；夹具，直径 ≤210mm, 厚度 ≤15mm
• 定位检测噪声：X-Y定位噪音(闭环)：<0.15nm RMS，典型成像带宽(达到625Hz)
• X-Y定位噪音(开环)：<0.10nm RMS，典型成像带宽(达到625Hz)

BRUKER Dimension icon AFM原子力显微镜将十年的研发经验融入到参数预设置中，在新的NanoScope软件带有默认的实验模式。针尖和样品之间开放式的空间设计，不仅可以进行各种标准实验，也可以自行设计实验方案，满足不同研究工作的需求。