Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪

Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪（XRD）采用新一代陶瓷X光管技术，焦斑位置稳定，衰减小，寿命长，尺寸标准采用封闭靶技术，后期维护方便；新一代林克斯XE探测器，分辨率比上一代提升一个数量级。通过 TWIN-TWIN 光路设计，成功实现了 BB 聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射 GID 分析、薄膜反射率 XRR 分析的全自动切换，而无需对光。

仪器广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定，材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体，为科学研究提供准确可靠的数据。

D8 ADVANCE 基于独特的 D8 衍射仪系列平台，专为所有 X 射线粉末衍射和散射应用而设计，包括：

• 传统 X 射线粉末衍射 (XRD)
• 对分布函数 (PDF) 分析
• 小角度和广角 X 射线散射（SAXS、WAXS）

由于其卓越的适应性，D8 ADVANCE 能够在一台仪器上测量所有样品类型，从液体到松散粉末，从薄膜到固体块。

Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪（XRD）特征：

• 具有优于380eV的能量分辨率。
• 使用CuKα或CoKα作为X射线源，波长选择器可选。
• 采用后射式真空设计，减少杂散射线干扰。
• 差分能力超过0.00084°，适用于微晶样品分析。
• 样品台采用4圈整体回转结构，样本观察角度0~150°。
• 动态扫描模式，扫描速度快达6°/min。
• 硬件辅助温度控制从室内温度到1000°C。
• 使用扫描XRD检测器进行高速同步数据采集。
• 从样品识别到定量分析全流程软件支持。
• 远程维护门户平台，实时监测仪器状态。
• 采用LynxEye软件统一界面操作，数据分析方便。
• 适用于多种材料结构解析，如晶相鉴定、应力状态等。

Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪（XRD）规格：

• X射线光源输出功率：3kW
• 2θ测量范围：-100°～150°
• 测角准确度：≤0.01°
• 重复性：≤0.001°
• 复现性：≤0.002°
• LynxEye阵列探测器：
• 动态范围：1 x 108cps
• 能量分辨率：≤20% (Cu)
• 仪器尺寸：1868x1300x1135mm
• 重量：770kg

Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪（XRD）技术先进，性能稳定，在学术及工业领域广泛应用。采用国际标准，适合各类XRD实验和工业检测需求。